ELBRUS XRF

ELBRUS.compact.duo

Der COMPACT.DUO- Spektrometermesskopf ohne Optik ist in klassischer RFA- Anordnung ausgeführt, jedoch zur Verbesserung des Elementnachweises mit zwei Röntgenröhren ausgestattet.
Die Fluoreszenzanregung der Probe erfolgt jeweils unter einem Winkel zum Detektor. Entsprechend den Erfordernissen der jeweiligen Aufgabenstellung können Detektoren verschiedener Funktionsprinzipien (wie z.B. SDD, Si-PIN, CdTe), Luft- oder Wasserkühlung für die Röntgenröhren sowie ein Laser-Entfernungsmesser zur Bestimmung des aktuellen Abstandes zwischen Probe und Detektor eingesetzt werden. Der Messkopf ist zusätzlich mit einem elektromagnetischen Verschluss und elektrischen Verriegelungen ausgestattet, wodurch Strahlungsgefährdungen verhindert werden.

Die lokale Auflösung der Röntgenstrahlung auf der Probe beträgt je nach verwendeter Aperturblende 5-10mm.
Bei Chalkopyrit- Solarzellen sind bei Verwendung eines SD-Detektors Messzeiten ≥ 5s erreichbar. Die eingesetzten Metall-Keramik-Röntgenröhren sind mit verschiedenen Anodenmaterialien verfügbar (max. Leistung ≤ 30W, abhängig vom Anodenmaterial, 50 µm Anodenbrennfleck). Zum Lieferumfang gehören u.a. Versorgungs- bzw. Signalverarbeitungsgeräte im 19’’ Gehäuse für die Röntgenquellen bzw. den Detektor sowie ein Industriecomputer inkl. Röntgenfluoreszenz- und Steuerungssoftware.
Bei einer Akquisitionszeit von 5s wird derzeit eine absolute Genauigkeit < 1% und eine statistische Genauigkeit < 1% erreicht (CIGS).

Integraler Bestandteil des optischen Layouts ist die Überwachung der anregenden Röntgenstrahlungsintensität (Monitoring). Das Monitoring erfolgt durch die Anregung von geeigneten, an die jeweilige Probe angepassten und im Primärstrahlungsgang angeordneten Materialien (Marker). Bei jeder Messung werden alle integralen Intensitäten der nachzuweisenden Schichtelemente auf die Marker-Intensitäten normalisiert. Dadurch werden Schwankungen der Primärintensität kompensiert, die z.B. durch das Aufwärmen der Röntgenquelle bis zum thermischen Gleichgewicht in der jeweiligen Einbausituation oder durch geringste Stromschwankungen hervorgerufen werden können.

Der COMPACT.DUO - Messkopf kann sowohl direkt in der Fertigungslinie (in-line, ex-situ) als auch off-line in F&E oder in der Qualitätssicherung eingesetzt werden. Für die off-line-Anwendung ist eine Kombination mit dem portablen Scanner ELBRUS iXSCAN.PORT vorteilhaft.